Więcej informacji
Precyzyjna podstawka testowa ZIF do układów scalonych. Posiada dźwignię przy pomocy której zaciskane jest gniazdo wielopinowe ze złoconymi stykami do obudów układów scalonych, lub innych modułów.
Specyfikacja:
- Montaż podstawki: THT
- Typ podstawki: DIL zaciskowa (ZIF)
- Ilość pinów: 18 pin
- Raster pomiędzy rzędami: 7.62 mm
- Raster: 2.54 mm
- Napięcie: prąd: 100mA/styk
- Żywotność: min. 25.000cykli
- Rezystancja styku: max. 50mΩ
- Temperatura pracy -25°C ÷ +70°C
SK