Podstawka ZIF-18PIN podstawka testowa zamykana

Precyzyjna podstawka testowa ZIF do układów scalonych. Posiada dźwignię przy pomocy której zaciskane jest gniazdo wielopinowe ze złoconymi stykami do obudów układów scalonych, lub innych modułów.

Specyfikacja:
- Montaż podstawki: THT
- Typ podstawki: DIL zaciskowa (ZIF)
- Ilość pinów: 18 pin
- Raster pomiędzy rzędami: 7.62 mm
- Raster: 2.54 mm
- Napięcie: prąd: 100mA/styk
- Żywotność: min. 25.000cykli
- Rezystancja styku: max. 50mΩ
- Temperatura pracy -25°C ÷ +70°C

SK